EDN· Usman Khan·· 3 hAI Score30
Test de continuité dans l'ATE pour semi-conducteurs : fondamentaux et méthodes de test
Continuity testing in semiconductor ATE: Fundamentals and test methods
AI Introduction
Le test de continuité est le premier test effectué sur une puce dans l'ATE, vérifiant l'absence de courts-circuits entre broches.
Source :EDN · edn.com